SMART-Technologie von Eriez

Überwachung der Prozessausrüstung zur Verbesserung der Leistung & Wiederverwertung

SMART Products

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Systemüberwachungs- und Berichterstattungstechnologie

Das SMART™-System von Eriez überwacht kontinuierlich kritische Prozesse und Sortiereinrichtungen, um effiziente Abläufe sicherzustellen. SMART, Systemüberwachungs- und Berichterstattungstechnologie, ist ein drahtloses Cloud-basiertes System, das Sensoren und Monitore in einem Schrottplatz zum Einsatz bringt, um Echtzeitberichte über die Effizienz von Sortieranlagen und -prozessen zu liefern. Diese SMART-Monitore helfen den Bedienern, die Leistung mitzuverfolgen und kurz- und langfristige Korrekturmaßnahmen zu ermitteln.

Das System überwacht drei Bereiche:

Feuchtigkeit: Der Monitor verfolgt den Feuchtigkeitsgehalt des Materials nach dem Shredden
Splitterbildung: Der Monitor meldet übermäßige Ansammlungen von Splittern bei der Trennung
Metallverlust: Der Monitor verfolgt nicht wiedergewonnene Metalle, die zur Deponie geschickt werden nach

SMART Portal

Das SMART Portal ist das Zentrum für alle Datenerfassungen und Echtzeitberichte. Benutzer können bequem über eine Cloud auf die passwortgeschützte SMART Hub zugreifen, um Berichte zu überprüfen, Daten herunterzuladen, Alarmmeldungen zu analysieren und zu setzen.

Metallverlust-Monitor

Der Metallverlust-Monitor durchsucht Ihren Rückstandsstrom kontinuierlich nach wertvollem Metall, das Ihrem Prozess entgangen ist und sonst zur Entsorgung auf Deponien geleitet werden würde. Der MVM ist entweder vor oder nach der Handsortierung positioniert und alarmiert die Bediener, wenn eine Metallspitze festgestellt wurde, beziehungsweise hilft bei Prozessausfallsdiagnose.

Der MVM ist so eingestellt, dass bestimmte Metallstücke, die auf dem endgültigen Kommissionierband transportiert werden, „gezählt“ werden. Wenn der voreingestellte Schwellenwert überschritten wird (hohe Metallanzahl), entsendet der MVM eine Alarmmeldung und es kommt zur Aufzeichnung eines Eintrags. Langfristig hilft der MVM bei der Diagnose bestimmter Schwachstellen in einem Bedienersystem. Ziel ist es, die voreingestellte Schwelle schrittweise zu senken und die Anzahl der Metalle zu reduzieren, die dem Prozess entgehen. Der MVM unterstützt Eriez fortlaufende Bemühungen, die Grade/Recovery Curve™ (Gradienten-/Wiederverwertbarkeitskurve) voranzutreiben, indem er detailliertes Feedback zum Prozess liefert.